キーワード

はんだ付け 良否判定
はんだ付け 外観検査
AOI 検査装置

製品一覧

キーエンス「フィレット形状XG-Xシリーズ」
-3次元形状を計測しはんだの量や大きさ，フィレット形状を正確に判別できる．

オムロン「VT-S1080」

-斜視カメラ搭載により、コネクタの根元の鮮明化
-高精度形状復元

資料・記事

「はんだ付け部の検査技術」

「実践道場はんだ付け外観検査」

1993年前後からはんだつけ部の外観検査装置を使ってきたとのこと
当時はレーザー式の検査装置名古屋電機のNLB6000 を導入.色々苦労したとのこと.
外観検査そのものは、目視検査かAOI(自動光学検査)で行われる

「PCB gogo 自動光学検査（AOI）」

AOI : 自動化された光学検査のことで、基板製造や基板実装で使用される検査方法
基板および実装基板両方の表面の欠陥そして内部欠陥を検出する有効な方法.プリント基板では、はんだ不足や過剰、回路のショート、オープン、傷、汚れなどがAOIの検査対象となる.

「【2023年版】基板外観検査装置3選 / メーカー16社一覧」(Metoree)

部品の欠陥
- 部品未実装
- 部品の実装位置が正しくない状態
- 部品の位置ずれ
- パッドから部品が外れてしまい、間違えた位置に実装されている状態
- 部品の浮き
- 部品片側のみがはんだ付けがされた状態で、他方が立ち上がってしまっている状態
はんだの欠陥
- 断線
- はんだがついていない状態
- ショート
- はんだの量が多すぎて、隣接したパッドにも付着している状態
- ボイド
- はんだ付けの際に、気泡によりできる不具合
- 濡れ不良
- はんだがきれいに付いているが電気的接触が不完全な状態
- はんだボール
- はんだのボール状の塊ができる状態
- ブリッジ
- 隣接したICピン間にはんだがつながっている状態
- クラック
- はんだ表面に割れがある状態
- イモハンダ
- はんだがうまく接合できず、はんだがイモのようにデコボコになっている状態
基板外観検査装置の原理
- 装置構成：カメラとコンピュータ
- 良否判定方法：基板接着面境界と電子部品接着面との境界を結ぶ直線距離を閾値として判定
- 近年では、複数のカメラを用い三次元撮影する、X線カメラで透過画像を撮影する、レーザーの反射光データを得るなどして、二次元の通常のカメラだけでは検出できない欠陥の検出を可能としている
- 例えば、三次元撮影をおこなうと、はんだ部分の高さや面積および体積などを計測できるため、はんだ量や大きさおよびフィレット形状などの測定ができる
メーカー16社
- ヤマハ発動機株式会社
  - 価格：数千万円
  - 製品例：
    - 3Dハイブリッド光学外観検査装置 YSi-V
    - 3Dハイブリッド光学外観検査装置 YRi-V
  - 特徴：
    - 高速・高精度
    - 2D+3D機能
    - IR（赤外線）照明
    - 正確な基板高さ基準の認識
    - 目視では検査が困難な極小チップ部品の取り付け状態も検査できる
- 日本ミルテック株式会社
  - AOI装置：http://www.mirtec-j.com/products/aoi/index.html
  - 予想価格：数百 ~ 数千万円
- オムロン株式会社
  - 数千万
- CKD株式会社
  - VP9000はんだ印刷検査機 https://www.ckd.co.jp/auto/machine/industry/detail/VP9000.php?doing_wp_cron=1700661228.4997611045837402343750
- 株式会社レクザム
  - 基板外観検査装置　Sherlock-300F/FH<卓上タイプ> ：https://www.ipros.jp/product/detail/2000200665/
- 株式会社ジャッツジャパン
  - http://www.jutze.co.jp/ps/inline.html
- 株式会社サキコーポレーション
  - https://www.sakicorp.com/product/
- 新電子株式会社
- 大洋工業株式会社
- マランツエレクトロニクス株式会社
- ノードソン・アドバンスト・テクノロジー株式会社
- オカノ電気株式会社
- JUKIオートメーションシステムズ株式会社
- Test Research, Inc
- Koh Young Technology, Inc
- PARMI Co, Ltd.

赤外線放射を利用した外観検査自動化開発（宮西哲人）

Key Words : Infrared Radiation，Measurement/Visual Inspection，Automation，Infrared Camera
従来手法
- 一般に，欠陥を自動検出するためのアプローチとしては，画像認識技術が多く用いられている
- 製品形状によっては照明光が乱反射することで欠陥以外の部位からの反射光が画像センサーに入射し，しばしば誤判定を引き起こすことが問題点として知られている
新たな技術
- 画像センサーで計測できる可視波長域以外の波長で，欠陥の光学的特性を調査．=> 物質により赤外線放射率大きな佐賀あることを見出した．
IR照明の有効性
- 可視光の乱反射によるフラックス残渣の誤検出防止
- 赤外線放射量の違いからハンダボールを検知できる

中古

CKD VP3000
99万
https://sales.sharingfactory.co.jp/listings/S4894ee9d